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| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 綜合 |
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光致發(fā)光量子效率測量系統
光致發(fā)光量子效率測量系統
QE-PL 光致發(fā)光量子效率測量系統是如海光電自主研發(fā)的高性能測試設備,專注于材料及器件的光致發(fā)光量子效率與光譜響應檢測。它適用于太陽能電池、光電探測器、光電材料等的性能測試,廣泛服務于高校、研究所的學術研究,以及企業(yè)的研發(fā)與生產品質管理場景。
核心特點
l 高穩(wěn)定性:搭載 300W 高穩(wěn)定性氙燈光源,穩(wěn)定性高于 99%,保障測量結果的高重復性與準確性。
l 高分辨率:采用非對稱水平光路與消慧差設計,確保譜線對稱,光學分辨率優(yōu)異。
l 低雜散光:通過消二次色散設計,有效抑制雜散光干擾,提升檢測精度。
l 長壽命設計:配備小模數精密研磨蝸輪蝸桿,運行平穩(wěn)噪聲低;狹縫刃口自動保護,寬度調節(jié)對稱性好,延長設備使用壽命。
l 精準可控:搭載步進電機細分驅動器,光譜準確度和重復性高,最小步距可達 0.005nm。
l 操作便捷:應用軟件功能強大,支持圖線與數據處理;具備背電極樣品臺,可實現探針臺采集模式切換。
產品規(guī)格參數
項目 | 詳情 |
產品型號 | QE-PL |
寬光譜測量范圍 | 350nm-1700nm |
光源 | 300W 高穩(wěn)定性氙燈光源 |
尺寸 | 規(guī)格一:800mm×700mm×310mm;規(guī)格二:800mm×450mm×415mm |
焦距 | 150mm |
雜散光 | 5×10?? |
最小步距 | 0.005nm |
狹縫有效尺寸 | 刃口 10μm 自動保護,寬度 10μm-3mm 可調,高度 5mm |
光源光譜線寬 | ~0.5nm |
光源波長設置精度 | 0.1nm |
可測參數 | 光譜響應度、外量子效率(EQE) |
功率計 | 測量范圍 190nm-2000nm,功率量程 10μW-3W |
典型光譜
(1)光源強度穩(wěn)定性測試
測試時間:7分鐘
光強波動范圍:3.697mW-3.777mW
平均值:3.739mW
標準差:10.41uW
(2)光源波長測試
光源測試測試范圍:350-1700
350nm-900nm
900nm-1700nm
(3)線寬測試
小狹縫時線寬測試范圍:400-800,間隔50nm
400nm-800nm線寬0.51nm-0.65nm
(4)量子效率穩(wěn)定性測試
光電二極管樣品測試三次量子轉換效率:
IPCE
功率
光致電流
應用領域
l IPCE 測試:精確測量材料或器件的光電轉換效率,為光電器件性能提升、材料合成優(yōu)化及器件制造工藝改進提供關鍵數據支持。適用于太陽能電池研究、光電探測器性能評估等領域。
量子效率測試IPCE圖
l 光電材料檢測:可對發(fā)光器件的光電特性進行全面測量,涵蓋光致發(fā)光光譜、電致發(fā)光光譜、外量子效率(EQE)、亮度、色度等參數。適配光電材料研究、LED 照明技術、顯示器技術、半導體器件優(yōu)化等場景。
電致發(fā)光光譜圖
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